专利称号:电镀铜办法、用于电镀铜办法的含磷铜阳极、及用 所述办法和阳极电镀的粒子附着少的半导体晶片
专利类型:发明专利 发明人:冈部岳夫,相场玲宏,关口淳之辅,宫下博仁,泽村一郎 申请号:CN02801522.3 申请日:20020711 揭露号:CN1529774 A 揭露日:2004 0915
申人:株式会社日矿资料 地址:日本东京 国籍:JP 署理组织:华夏信达知识产权署理有限责任公司 更多信息请下载全文后检查
摘要:本发明触及电镀铜办法,其特征是,进行电镀铜时运用含磷铜作为阳极,且运用下面的 阳极进行电镀铜:当电解时的阳极电流密度为3A/dm或更高时,使所述的含磷铜阳极的结晶粒径为 10至1500μm,当电解时的阳极电流密度低于3A/dm时,使所述的含磷铜阳极的结晶粒径为5至 1500μm。本发明供给一种电镀铜办法和用于这一电镀铜办法的含磷铜阳极,该办法可抑制粒子的产 生,如电镀浴中阳极一侧所发生的淤渣,且可防止粒子附着于半导体晶片,并触及用前述办法和阳极 电镀的具有低粒子附着的半导体晶片。